集成电路PCT高压加速老化试验箱仪器用途：

    集成电路PCT高压加速老化试验箱又称为集成电路PCT高压加速老化试验箱，适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间.

集成电路PCT高压加速老化试验箱技术优势:

    以前的温度测验都是通过温湿度的饱和，蒸汽压表计算的过程而计算出来准确性不足，现采用的是新技术，在温度、湿度、压力是真的读取相关感测器的数值来显示的、实验过程的。采用干燥的设计在实验过程中才用点热干燥设计，来确保测试区或者是待测品的干燥，来确保稳定性质。Jing准的压力/温度对照显示，完全符合温湿度压力对照表要求。